關(guān)鍵詞：電容器漏電測試

　　摘要：當(dāng)按鈕開關(guān)合上時，電容器CREF和CX通過它們各自的PNP晶體管進(jìn)行充電。當(dāng)該開關(guān)斷開時，電容器CREF和CX開始放電。假定CREF處在良好狀態(tài)，它具有一個附加的放電外接電阻RREF，待測電容器CX通過其內(nèi)部電阻放電。

　　電解電容器時間用長后就會出現(xiàn)漏電現(xiàn)象，附圖所示的電路能讓你測試電容器的漏電，并且決定它們是否值得使用，你可以通過CREF/RREF的比值抑制泄漏。附圖中的比值適用于從1納法的陶瓷電容器到1000微法的電解電容器等所有電容器的通用測試。電路中CREF的數(shù)值與待測電容器CX的數(shù)值相近，你也可以通過一個旋轉(zhuǎn)開關(guān)選擇RREF，使其大于或小于22MΩ。

　　如果CX的放電比CREF通過RREF的放電快，此時其電壓將下降較快，這樣，運算放大器的同向端輸入電壓將比其反向端輸入電壓低，迫使運算放大器的輸出變低，從而點亮紅色發(fā)光二極管。該發(fā)光二極管指明待測電容器CX漏電，該測試電路表明甚至一個1納法的陶瓷電容器都適應(yīng)來比作參考，測試前請檢查待測電容器CX的標(biāo)稱電壓應(yīng)比其待充電電壓要高。運算放大器LF357具有10V的最小電源電壓，本測試電路只選取6V電壓是為了容許待測電容器CX一個低的上限電壓。